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PCT老化試驗(yàn)箱的用途及參數(shù)
閱讀：617 發(fā)布時(shí)間：2022-12-3
PCT老化箱（又名PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱）主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體與導(dǎo)線(xiàn)架之接口滲入封裝體，常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等，廣泛應(yīng)用于線(xiàn)路板，多層線(xiàn)路板，IC、LCD，磁鐵等產(chǎn)品之密封 性能的檢測(cè)，測(cè)試其制品的耐壓性，氣密性。加速老化壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力（如：溫度）與工作應(yīng)力（施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等），加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。
符合標(biāo)準(zhǔn)：UL1581sect420.9、ASTM-D2436、CNS3556、CNS742、JIS7212、JIS B7757、GB試驗(yàn)求等。