EPK測厚儀機械測厚儀影響精度因素
由于測厚儀經過校準后，在使用中不能再變動。所以，在實際使用中，可能會出現的一些影響測量精度的因素必須加以考慮，并對測量結果進行必要的修正，具體因素如下：
A.鋼基體的磁性和光澤
B.基底金屬的厚度:
儀器有一個很小的基體臨界厚度值zui。不同型號的厚度值不同。請參考技術規(guī)格。如果厚度超過zui的這個小臨界厚度值，測量值不會受到影響。否則讀數值高。
C.邊絕效應
測量方法對被測物體表面形狀的突變敏感，如邊界、孔洞、空洞等。因此，在邊緣或內角附近測量是不可靠的。所以技術規(guī)范指標指出了zui的測量面積小。如果你想測量，你必須檢查和驗證。
D.彎曲
被測工件的曲率對測量有影響。一般凸面會導致測量值過大，凹面過小。雖然儀器設計對此進行了補償。
E.覆蓋層厚度
厚度測量精度隨表面涂層厚度的變化而變化。對于薄涂層，測量精度是常數，與涂層厚度無關；對于涂層的厚度，其精度大致與涂層厚度成正比。
F.剩磁
金屬的剩磁會影響Mikrotest測厚儀的測量結果。
G.磁場
周圍各種電氣設備產生的強磁場會嚴重干擾儀器的工作。
H.地心引力
Mikrotest測厚儀的測量讀數受探頭相對于地球的重力方向的影響。
