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菲希爾X射線XDAL600信息

時間：2024/12/3閱讀：175
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菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE XDAL600特性：

  • X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測量任務

  • 由于測量距離可以調節(jié)（.大可達 80 mm），適用于測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件

  • 通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸（可選）實現(xiàn)自動化的批量測試

  • 使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器，非常適用于測量超薄鍍層（XDAL 設備）

無錫駿展儀器供應應用：

鍍層厚度測量

  • 大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量

  • 電路板上較薄的導電層和/或隔離層

  • 復雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層

  • 鉻鍍層，如經(jīng)過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品

  • 氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質涂層厚度測量


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