無(wú)錫駿展儀器有限責(zé)任公司
中級(jí)會(huì)員 | 第4年

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  • FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500 x射線測(cè)厚儀

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  • 菲希爾熒光射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE XAN 310

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  • FISCHERSCOPE X-RAY XUL XYm菲希爾測(cè)厚儀

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  • FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240菲希爾測(cè)厚儀

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  • 菲希爾涂層測(cè)厚儀Dualscope MP0

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  • 菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XUL 210測(cè)厚儀

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  • FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ菲希爾測(cè)厚儀

    FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ菲希爾測(cè)厚儀,是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進(jìn)行高精度鍍層厚度測(cè)量和材料分析而設(shè)計(jì)的。

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  • 菲希爾X射線測(cè)厚儀 X射線分析儀fischer代理

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  • FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237菲希爾代理

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  • X-RAY XAN 250菲希爾測(cè)厚儀fischer

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  • 菲希爾x熒光射線測(cè)厚儀XDV-SDD

    菲希爾x熒光射線測(cè)厚儀XDV-SDD, X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀,配有可編程運(yùn)行的 X/Y 軸工作臺(tái)和 Z 軸升降臺(tái),用于自動(dòng)測(cè)量超薄鍍層厚度或進(jìn)行痕量...

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  • fischerscope XDLM231/XDLM232/XDLM237

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  • 菲希爾測(cè)厚儀Feritscope X-RAY XDLM237

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  • x熒光射線fischerscope x-ray xdlm 232

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