菲希爾x-ray測厚儀 返回列表頁

      菲希爾x-ray測厚儀簡介：德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPEX-RAYXDL210/220/230/240是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用手動方式，測量和分析印刷電路板、防護(hù)及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。德國菲希爾X射線膜厚儀FISCHERSCOPEX-RAYXDL210/220/230//240德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPEX-RAYXDL210/220/230/240特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

　　德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPEX-RAYXDL210/220/230/240典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

　　測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

　　測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻

　　測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

　　測量印刷線路板

　　分析電鍍?nèi)芤?/p>

     菲希爾x-ray測厚儀特別適合測量細(xì)小的部件如連接器，觸點(diǎn)或線，也可以測量印刷線路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的超薄的金鍍層也可以用測量點(diǎn)為?0.25mm的準(zhǔn)直器測量，20秒的重復(fù)精度可達(dá)2.5nm。