鍍鉻層厚度測量菲希爾XDL230 返回列表頁

鍍鉻層厚度測量菲希爾XDL230

鍍鉻層厚度測量菲希爾XDL230

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230/240是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時(shí)還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用手動(dòng)方式，測量和分析印刷電路板、防護(hù)及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。德國菲希爾X射線膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230//240德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL210/220/230/240特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

盡管結(jié)構(gòu)緊湊，但這些儀器都有大容量的測量室，這樣大的物品也可以測量。殼體的開槽設(shè)計(jì)（C型槽）可以測量諸如印刷線路板類大而平整的樣品，即使這些樣品可能無法*放入測量室。

XULM特別適合測量細(xì)小的部件如連接器，觸點(diǎn)或線，也可以測量印刷線路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的超薄的金鍍層也可以用測量點(diǎn)為?0.25mm的準(zhǔn)直器測量，20秒的重復(fù)精度可達(dá)2.5nm。