Fischerscope XDL210菲希爾測厚儀 返回列表頁

Fischerscope XDL210菲希爾測厚儀

Fischerscope XDL210菲希爾測厚儀

FISCHERSCOPE-X-RAY XDL是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認(rèn)可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進行分析和測量。zui多可同時測量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。

X-RAY XUL/ XULM

X-RAY XAN 

X-RAY XAN 500 

X-RAY XDL/ XDLM

X-RAY XDAL 

X-RAY XDV SDD 

X-RAY XDV-μ / XDV-μ LD 

X-RAY XUV 773

無錫駿展儀器有限責(zé)任公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)解決方案廣泛應(yīng)用于大中型國有企業(yè)、汽車制造、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造、冶金、航空航天、工程建設(shè)、大學(xué)和其他研究實驗室和生產(chǎn)線,質(zhì)量控制,和教育事業(yè),以評估的幾何特征的材料,組件和結(jié)構(gòu)和理化性質(zhì),*制造技術(shù)的驅(qū)動精益求精。

XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。

XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

X射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

測量薄鍍層，例如裝飾鉻

測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

全自動測量，如測量印刷線路板

分析電鍍?nèi)芤?/p>