產(chǎn)地類別 |
進口 |
價格區(qū)間 |
面議 |
應(yīng)用領(lǐng)域 |
環(huán)保,化工,石油,能源,電子 |
菲希爾x射線測厚儀代理,fischer測厚儀,適用于Windows®2000或選擇適用于Windows® XP的真Win32位程序帶在線幫助功能
菲希爾x射線測厚儀代理
菲希爾x射線測厚儀代理
X射線熒光分析法 (XRFA):
能量散射X射線熒光光譜法(EDXRF)作為鍍層厚度測量和材料分析的方法,可用來定量和定性分析樣品的元素組成,也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量。無論是在實驗室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中,這一方法都能*勝任,并還可以與現(xiàn)代化設(shè)備一起發(fā)揮作用。
X射線熒光法(XRFA)的優(yōu)點:
快速無損的鍍層厚度測量(單層或多鍍層)
分析固態(tài),粉末或液態(tài)樣品
有害物痕量分析
高精度和準(zhǔn)確度
十分廣泛的應(yīng)用
準(zhǔn)確測量基材是磁性和導(dǎo)電的材料
樣品制備非常簡單
測試方法安全,沒有使用危害環(huán)境的化學(xué)制品
無耗品,物超所值
菲希爾xan215參數(shù)
設(shè)計用途 | 采用能量色散型X射線熒光光譜法(EDXRF), 用以分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度 |
元素范圍 | 從元素氯(17)到鈾(92),多可同時測定24種元素。 |
重復(fù)性 | 測量金元素時≤1‰,測量時間60秒 |
形式設(shè)計 | 臺式儀器,測量門向上開啟 |
測量方向 | 由下往上 |
X射線源 |
X射線管 | 帶鈹窗口的鎢靶射線管 |
高壓 | 三檔:30KV,40KV,50KV |
孔徑(準(zhǔn)直器) | φ1mm;可選φ2mm |
測量點尺寸 | 當(dāng)測量距離MD=0mm時,測量點直徑=孔徑直徑+200μm |
X射線探測 |
X射線探測器 | 采用珀耳帖了法冷卻的Si-PIN接收器 |
能量分辨率 (Mn元素Kα半高寬) | ≤180eV |
測量距離 | 0...10mm |
通過受保護的DCM測量距離補償法,可在不同測量距離上不需要重新校準(zhǔn)就能進行測量;對于特殊的應(yīng)用或者對測量精度要求較高的測量,可能需要進行額外的校準(zhǔn)。 |
樣品定位 |
樣品放置 | 手動 |
視頻系統(tǒng) | 高分辨率CCD彩色攝像頭,可沿著初級X射線光束方向,手動焦距,對被測位置進行監(jiān)控 |
十字線(帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測量點尺寸),可調(diào)節(jié)亮度的LED照明 |
圖像發(fā)達倍數(shù) | 40x~160x |
工作臺 |
形式設(shè)計 | 固定工作臺 |
樣品放置可用區(qū)域 | 310x320mm |
樣品大重量
| 13KG |
樣品高高度 | 90mm |
電氣參數(shù) |
電源要求 | AC 220V 50Hz |
功耗 | 大120W(不包括計算機) |
保護等級 | IP40 |
尺寸規(guī)格 |
外部尺寸(寬x深x高) | 403x588x365mm
|
重量 | 大約45KG |
環(huán)境要求 |
使用時溫度 | 10℃~40℃
|
存儲或運輸時溫度 | 0℃~50℃ |
空氣相對濕度 | ≤95%,無結(jié)露 |
計算單元 |
計算機
| Windows®-PC |
軟件 | 標(biāo)準(zhǔn):Fischer WinFTM®BASIC 包含PDM®功能 |
可選:Fischer WinFTM® |
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) |
CE合格標(biāo)準(zhǔn) | EN 61010 |
X射線標(biāo)準(zhǔn) | DIN ISO 3497 和ASTM B 568 |
形式批準(zhǔn) |
|
符合德國“Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法規(guī)的規(guī)定 |
無錫駿展儀器有限責(zé)任公司在以下領(lǐng)域具有*的優(yōu)勢:
1. 為機械加工、*制造、新材料應(yīng)用、科研等前沿產(chǎn)業(yè)提供更新的檢測設(shè)備和檢測技術(shù);
2. 在產(chǎn)品質(zhì)量控制和可靠性提升方面為客戶提供更有效的解決方案和技術(shù)服務(wù);
3.為客戶提供車間、實驗室所需的各種檢測儀器,并提供技術(shù)支持、維護和維修服務(wù)。