菲希爾測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN 返回列表頁

菲希爾測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN

菲希爾測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。多可同時測量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。

XDL型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。

XDL系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

FISCHERSCOPE-X-RAY XDL-210典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

FISCHERSCOPEX-RAYXAN測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

FISCHERSCOPEX-RAYXAN測量薄鍍層，例如裝飾鉻

菲希爾x射線測厚儀測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

菲希爾x射線測厚儀測量全自動測量，如測量印刷線路板

菲希爾x射線測厚儀測量分析電鍍?nèi)芤?/p>

XDL型X射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。X射線熒光光譜儀，用于對保護和裝飾涂料，量產(chǎn)的零件和印制板上的涂層進行手動或自動厚度測量。菲希爾熒光鍍層分析儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210適合鍍層厚度測量的耐用儀器，即使大測量距離也可以測量（DCM，范圍0-80mm）。配備一個固定的準直器和固定的濾片。適合測量點在1mm以上的應(yīng)用；跟XUL類似?？蛇x用自動測量的可編程工作臺

駿展儀器產(chǎn)品覆蓋長度測量儀器,光學儀器,形狀,工具,材料檢測儀器、涂層和表面處理的測試儀器,已經(jīng)為許多國內(nèi)外大中型企業(yè)提供服務(wù),優(yōu)良的品質(zhì)和完善的服務(wù),贏得了客戶的*,并建立了一個穩(wěn)固的市場地位。公司主要從事物理表面檢測儀器的銷售和服務(wù)。擁有長期致力于行業(yè)的高科技人才和高效的管理團隊，人才是公司立足的根本保證，也是公司未來發(fā)展的堅實基礎(chǔ)，是公司更寶貴的財富。