Fischer測厚儀代理Fischerscope MMS PC2 返回列表頁

Fischer測厚儀代理Fischerscope MMS PC2

Fischer測厚儀代理Fischerscope MMS PC2

Fischerscope MMS PC2友好的用戶界面

Fischerscope MMS PC2配有大尺寸、高分辨的彩色液晶觸摸屏。觸摸屏能快速而高效地幫助您完成測量數(shù)據(jù)的采集、存儲(chǔ)、評估及文件報(bào)告。儀器使用 基于Windows CE操作系統(tǒng)的測量軟件，與 Word或Excel良好兼容。操作簡單易學(xué)，并且對所有測量方法操作過程都保持。 MMS PC2提供實(shí)際上無限的測量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)空間，以及在線網(wǎng)絡(luò)的更新服務(wù)。

共有三種測量結(jié)果表示方式，可即刻辨別重要信息 （Numeric Display Mode, Control Chart Display Mode, Specification Limit Display Mode）。

PERMASCOPE  模塊

Fischerscope MMS PC2這一插入式模塊使用電磁感應(yīng)和渦流的測試方法。

Fischer測厚儀代理該模塊適合于測量涂鍍層厚度以及鐵素體含量：

Fischer測厚儀代理鋼和鐵（Fe）上非鐵磁性鍍層厚度，如鉻、銅、鋅、油漆、搪

Fischer測厚儀代理瓷或塑料在鐵基材上的厚度。

用于測量在非磁性金屬基材上非鐵磁性非導(dǎo)電鍍層的厚度。如在鋁，銅，鋅上油漆或塑、清漆等的厚度。亦可用于測量鋁基材上陽極氧化層的厚度。

奧氏體焊接金屬或雙聯(lián)不銹鋼

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NICKELSCOPE 模塊Module NICKELSCOPE

fischer mms pc2這一插入式模塊采用霍耳效應(yīng)方法測量鎳或鐵鍍層在非鐵基材上的厚度。

fischer mms pc2使用該模塊測量：

fischer mms pc2非導(dǎo)電或非鐵基材上電鍍鎳層的厚度。

厚的非鐵金屬鍍層，例如：銅，鋁或鉛鍍層在鐵或鋼上。

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BETASCOPE  模塊

菲希爾測厚儀這一插入式模塊采用了Beta背散射方法。幾乎可以測量在任何基材上的任何材料鍍層厚度，只要鍍層材料和基材材料元素間存在至少5個(gè)原子序數(shù)的差別。

菲希爾測厚儀該模塊應(yīng)用于：

菲希爾測厚儀不銹鋼上的納米薄膜（抗指紋膜）

太陽能電池薄膜（玻璃上的CdTe層）

在電鍍廠用手持式探頭經(jīng)濟(jì)地測量單個(gè)的鍍層

在油漆制品以及金屬基材上有機(jī)鍍層的厚度.

在金屬薄板生產(chǎn)和處理工業(yè)的防腐蝕油膜，蠟，Bonazinc等涂層的質(zhì)量檢測

薄片、紡織物

SR-SCOPE; 模塊

這一插入式模塊采用了微電阻方法，適合于測量多層板上表面銅鍍層的厚度。尤其是薄的層積板，也是組成多層印刷線路板的起始材料上的銅鍍層，以及帶環(huán)氧間隙層的多層板上銅鍍層的厚度。

銅的厚度在0.1至10m （0.04 至0.4 mils） 以及5至120m （0.2至4.7 mils），不受中間銅層的干擾。

SIGMASCOPE; -PHASCOPE 1/TEMPERATURE模塊

該模塊采用相位電渦流法，適用于以下測量要求：

非鐵磁性金屬的電導(dǎo)率測量（采用內(nèi)置或外置溫度傳感器可自動(dòng)補(bǔ)償溫度變化）

非鐵磁性金屬鍍層的厚度，如鋼鐵上的鋅、銅、鋁等，尤其適合表面粗糙的情況或是在非導(dǎo)電基材上的非鐵磁性金屬鍍層測厚。

非鐵磁性低電導(dǎo)率基材上非鐵磁性高電導(dǎo)率金屬鍍層的厚度測量，如黃銅或奧氏體材料上的銅厚測量。

鋼鐵上鎳鍍層的厚度測量。

阻焊材料之下的銅層的厚度。

SIGMASCOPE; -PHASCOPE; 2 模塊

此模塊需要配合SIGMASCOPE; -PHASCOPE; 1/TEMPERATURE模塊一起使用。

可以測量PCB板上孔內(nèi)銅層的厚度。

PHASCOPE DUPLEX 模塊

此模塊集成了磁感應(yīng)法和渦流相位法。，這樣就能測量雙層系統(tǒng)。

只要一次測量就能同時(shí)測得Paint/Zn/Steel（雙鍍層）的厚度。

溫度測量模塊

此模塊連接TF100A探頭（探頭使用PT100傳感器）用以測量溫度，測量范圍0--﹢80℃（0--﹢178℉）。在某些測量模式中，溫度測量非常的有用。例如：在Beta射線反向散射法和電阻測試法中作為溫度補(bǔ)償。