費(fèi)希爾庫倫法測厚儀Couloscope CMS2 STEP 返回列表頁

費(fèi)希爾庫倫法測厚儀Couloscope CMS2 STEP

費(fèi)希爾庫倫法測厚儀Couloscope CMS2 STEP

一：Couloscope CMS2 STEP費(fèi)希爾庫倫法測厚儀測量原理

COULOSCOPE CMS2庫倫法測厚儀原理：庫侖涂層厚度測量法（DIN EN ISO 2177）

庫倫法測厚儀該系列儀器基于 DIN EN ISO 2177 標(biāo)準(zhǔn)庫侖法。金屬或非金屬基材上的金屬鍍層在受控電流條件下被電解腐蝕——實(shí)際上是電鍍的逆過程。負(fù)載電流與要?jiǎng)冸x的涂層厚度成正比。如果電流和剝離面積保持不變，鍍層的厚度與電解時(shí)間成正比。

COULOSCOPE CMS2 STEP庫倫法測厚儀原理：

STEP測試用于同時(shí)測量允許腐蝕條件下多層鎳鍍層的電位差和厚度，該方法是該應(yīng)用領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)。

二、Couloscope CMS2 STEP費(fèi)希爾庫倫法測厚儀應(yīng)用

費(fèi)希爾CMS2 STEP應(yīng)用：

費(fèi)希爾CMS2 STEP功能強(qiáng)大，界面友好，適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品質(zhì)量檢測。 CMS2費(fèi)希爾代理可以輕松快速地測量許多常見的單層和雙層涂層，例如鐵上的鋅或銅上的鎳上的錫。費(fèi)希爾代理這種方法可以測量任何金屬涂層。在0.05-50μm的厚度范圍內(nèi)，很多材料不需要預(yù)設(shè)；基板成分和幾何形狀都不是測量的關(guān)鍵。一種常見的應(yīng)用是測量電路板上剩余的純錫，以確?？珊感?。鐵或塑料 (ABS) 基材上的 Cr/Ni/Cu 等多種涂層，這些涂層通常用于高品質(zhì)的衛(wèi)浴產(chǎn)品，也可以使用這種方法進(jìn)行測量。

dualscope fmp20費(fèi)希爾測厚儀

德國Fischer DUALSCOPE fmp20費(fèi)希爾涂層測厚儀使用兩種測試方法：電磁感應(yīng)和渦流。它為測量鐵磁性和有色金屬材料的應(yīng)用需求提供了經(jīng)濟(jì)解決方案，無需硬拷貝文件。該儀器可以自動(dòng)識(shí)別被測材料并選擇適當(dāng)?shù)臏y試方法

德國Fischer DUALSCOPE fmp20費(fèi)希爾便攜式薄膜測厚儀配備*且易于讀取的60 x 30 mm（2.4'x 1.2'）LCD顯示屏。大量顯示的信息使操作極其簡單，包括單次測量讀數(shù)、測量次數(shù)、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)、CP和CPK、產(chǎn)品規(guī)格極限、日期、時(shí)間、用于顯示操作模式和設(shè)置的圖標(biāo)和符號(hào)、兩行16個(gè)字母的文本或用于顯示數(shù)據(jù)和操作員提示的自由選擇符號(hào)。

無錫駿展儀器有限責(zé)任公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)解決方案廣泛應(yīng)用于大中型國有企業(yè)、汽車制造、精密機(jī)械、模具加工、電子電力、鑄造、冶金、大學(xué)和其他研究實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線,質(zhì)量控制,和教育事業(yè),以評(píng)估的幾何特征的材料,組件和結(jié)構(gòu)和理化性質(zhì),*制造技術(shù)的驅(qū)動(dòng)精益求精。