菲希爾Fischer X熒光射線測厚儀 返回列表頁

菲希爾Fischer X熒光射線測厚儀

菲希爾Fischer X熒光射線測厚儀

XAN215 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀

菲希爾x射線測厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:

Fischer X射線測厚儀用于珠寶、貴金屬和牙科用合金分析

Fischer X射線測厚儀 黃金制品和K金制品分析

鉑金制品和銀制品分析

銠制品分析

其他合金分析和鍍層厚度測量

多鍍層厚度測量 

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215菲希爾測厚儀是一款入門級(jí)能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對(duì)珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無損分析。Fischer測厚儀菲希爾x熒光射線測厚儀它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，從元素氯（17）到鈾（92），多可同時(shí)測定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。Si-PIN的*基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

無錫駿展儀器有限責(zé)任公司起源于美國,英國,德國和其他地區(qū)的合作伙伴,與全系列的產(chǎn)品資源和服務(wù),光學(xué)儀器、測量儀器、無損檢測、實(shí)驗(yàn)儀器、分析儀器、測量工具測量工具和其他類型的測試設(shè)備,努力為客戶解決快速分析的測量技術(shù)挑戰(zhàn),聯(lián)合提供定制化精密測量和性能分析系統(tǒng)解決方案，有效推動(dòng)企業(yè)實(shí)現(xiàn)既定目標(biāo)。