Surtronic DUO|泰勒霍普森粗糙度儀 返回列表頁

Surtronic DUO|泰勒霍普森粗糙度儀

Surtronic DUO泰勒霍普森粗糙度儀技術指標：     

量    程：200um    

行    程：5mm    

取樣長度：0.8mm+/-15%    

參    數(shù)：Ra：0.1um-40um

     Rz：0.1um-199um     

精    度：Ra:0.1um

     Rz:0.1um    

檢測方式：壓電式    

尺    寸：125＊80＊38mm    

重    量：200g

Surtronic DUO|泰勒霍普森粗糙度儀

英國泰勒公司Surtronic ® Duo粗糙度儀是一種便攜式表面粗糙度測量儀，只需按一鍵即可測量多個粗糙度參數(shù)。這些參數(shù)（如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt）會顯示在直觀的2.4英寸LCD彩色屏幕上。使用充電電池，便于在所有環(huán)境和表面進行快速、輕松和的現(xiàn)場測量。測量原理通過采用耐磨的金剛石測針部件，以及精密的機動驅(qū)動裝置，確保行進正確的水平距離。當測針劃過波峰和波谷時，高感應度的壓電傳感器能檢測到它的垂直移動，然后將機械移動轉(zhuǎn)化為電子信號。電子信號將進行數(shù)字化處理并發(fā)送到微處理器，然后使用標準化算法即時計算表面粗糙度參數(shù)