TAYLOR HOBSON薄膜粗糙度測量 返回列表頁

TAYLOR HOBSON薄膜粗糙度測量

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S128特點:

USB連接

通過行業(yè)標準A類型USB接口和迷你USB接口，S-100系列測量儀能夠對多種標準裝置提供多種連接選擇。

A類型USB

A類型USB接口能夠用于連接便攜式打印機

（ESC/POS兼容），參見“配件"頁或者標準USB儲存裝置，儲存結果、初始數據或者屏幕圖像。

迷你USB接口

迷你USB接口能夠用于充電（任何標準USB充電器）或者連接到電腦上，提供進一步的數據分析和報告功能。

TAYLOR HOBSON薄膜粗糙度測量

Surtronic S128泰勒霍普森粗糙度儀

薄膜粗糙度測量儀任何表面，任何高度

包括一個50mm長的測針升降裝置和直角附件，以及孔深可達70mm的能力，在不需要昂貴的墊塊支架或工裝的情況下，對挑戰(zhàn)性的測量位

置進行檢測。防滑的V型腳架設計使得該系統(tǒng)能夠用在平滑或者彎曲的表面上。測針還能夠翻轉向上測量。

詳細的輪廓圖形能夠顯示測量區(qū)域，能夠幫助分辨出有問題的區(qū)域。

薄膜粗糙度測量儀設置簡單

輕觸快捷鍵即可進行所有關鍵設置。

薄膜粗糙度測量儀迷你USB 2.0

用于充電（任何標準USB充電器）或連接電腦傳輸數據。

薄膜粗糙度測量儀A類型USB 2.0

可連接便攜式打印機或者USB儲存設備

薄膜粗糙度測量儀方向切換

可將屏幕旋轉四個方向，非常適用于不順手的測量位置。

薄膜粗糙度測量儀行業(yè)標準和可追溯性

所提供的標準能夠用于校正儀器和檢查測針磨損，以確保總能夠得到zui準確的測量