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FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220菲希爾X射線測厚儀是專為測量印制電路板上鍍層厚度及成分分析而設計的入門級、耐用型測量儀。
微聚焦X射線管配合比例接收器能夠產生高計數率信號，以此造就了高精度的測量。出色的準確性及長期的穩(wěn)定性是FISCHER X射線儀器的共有特點，因此也大大減少了重新校準儀器的需要，為您節(jié)省時間和精力。
依靠FISCHER所采用的的基本參數法，可以在沒有標準片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品及測量樣品的鍍層厚度。
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220菲希爾X射線測厚儀配備了可電動切換的多種準直器和基本濾片，讓每次測量都可以在條件下進行，滿足各種測量需求。
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220菲希爾X射線測厚儀是用戶界面友好的臺式測量儀器。測量門底部留有空隙，以方便對大面積印制電路板的測量。儀器樣品定位簡便，配備了高精度、可編程的XY平臺，并帶有彈出功能。激光點作為輔助定位，能幫助快速對準測量位置。配備了高分辨率彩色攝像頭，使得對準測量位置的過程更加準確、簡便。
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220菲希爾X射線測厚儀配備帶鈹窗口的微聚焦鎢管，提供三擋可選高壓，3種可切換基本濾片。
菲希爾代理Fischer熒光射線測厚儀
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