稀有金屬鍍層厚度測量 返回列表頁

稀有金屬鍍層厚度測量

菲希爾X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用手動方式，測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。德國菲希爾X射線膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230//240

菲希爾X射線鍍層測厚儀簡介：

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230/240是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL210/220/230/240特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230/240典型的應用領域有：

菲希爾X射線測厚儀測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

菲希爾X射線測厚儀測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻

菲希爾X射線測厚儀測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層

測量印刷線路板

分析電鍍?nèi)芤?/p>

XDL230有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。

由于采用了FISCHER基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。

設計理念：

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE? X-RAY XDL 210/220/230/240是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。手動操作的X-Y工作臺，馬達驅動的Z軸系統(tǒng)。

高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實時觀察測量過程和進度。

測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計，由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。

帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放，并且允許測量點的調(diào)整。

所有的儀器操作，以及測量數(shù)據(jù)的計算和測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示，都可以通過功能強大而界面友好的WinFTM?軟件在電腦上完成。

XDL型鍍層測厚及材料分析儀作為受保護的儀器，型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法規(guī)的規(guī)定。