金鎳銅層厚度測量 返回列表頁

金鎳銅層厚度測量

菲希爾X射線測厚儀Fischerscope XUL儀器適合測量不同形狀的細(xì)小工件，如螺絲，螺釘或螺帽，連接器觸點(diǎn)及其它電子元器件。它還適合快速、簡便地測量電鍍液中的金屬含量。配備微距焦射線管的XULM儀器，適用于測量非常小的工件，如接插件和線材。它還配備了四個用馬達(dá)調(diào)整的準(zhǔn)直器和三個不同材料的基本濾波器，用于提高測量的靈敏度。特別適用于測量接插件和線路板，也適用于珠寶和手表業(yè)。

菲希爾x射線測厚儀

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM 儀器是用戶界面友好的臺式測量儀。根據(jù)用戶不同的使用需求，其配置了手動XY軸工作臺，用于細(xì)小樣品的精確定位。為了樣品定位簡單快捷，X射線發(fā)生器和比例接收器都集成在儀器下部艙室中，因而樣品的底部是實(shí)際被測量面，樣品則由一層透明的薄膜托放在測量室中。雖然儀器采用了緊湊型設(shè)計，但是其配置的超大測量室，使得對大型工件的測量也是同樣的得心應(yīng)手。

菲希爾X射線測厚儀可用于測量所有金屬鍍層的厚度以及多鍍層或者合金成分分析，也可以進(jìn)行電解溶液含量成份分析，帶有國家環(huán)保局豁免證書，無放射源設(shè)計，安全環(huán)保。主要用于微小結(jié)構(gòu)的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層測量、分析。