費(fèi)希爾電位差測(cè)試儀couloscope cms2 step

費(fèi)希爾電位差測(cè)試儀couloscope cms2 step

在電鍍行業(yè)中，對(duì)多層鎳鍍層中各自層的同時(shí)的厚度和電極電位的測(cè)定變成了一個(gè)越來(lái)越重要的需求。的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個(gè)鎳層間足夠的電位差導(dǎo)致了光亮鎳層優(yōu)先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個(gè)鎳層的穿透速度，并且給了基材相對(duì)于單鍍層更好的防腐保護(hù)。

COULOSCOPE CMS STEP可以通過(guò)定位于電位-時(shí)間表中相關(guān)部分的雙指針來(lái)方便地測(cè)出鍍層厚度和電位差。這個(gè)圖表能夠外部保存或通過(guò)RS232轉(zhuǎn)換到PC電腦中。

COULOSCOPE CMS電解多鍍層庫(kù)侖法測(cè)厚儀可用于測(cè)量：

Au、Cd、Cr、Pd、Ni、Sn、Zn、Pb、Pb60Sn40、Brass 等金屬

基材可為 Cu and Cu-Alloy、Al and Al-Alloy、Zn and Zn-Alloy、Ni、Fe、非金屬材料等

COULOSCOPE CMS2 STEP：

除了與COULOSCOPE CMS2相對(duì)應(yīng)的涂層厚度測(cè)量外，COULOSCOPE CMS2 STEP還提供符合ASTM B764  -  04和DIN EN 16866的STEP測(cè)試功能.COULOSCOPE CMS2 STEP非常適合測(cè)量單個(gè)涂層厚度和 多種鎳涂層的潛在差異以簡(jiǎn)單的標(biāo)準(zhǔn)符合方式。

COULOSCOPE CMS2儀器可測(cè)量金屬或非金屬基材上幾乎任何金屬涂層的厚度。

FISCHER 公司為滿(mǎn)足不同客戶(hù)各種需要，開(kāi)發(fā)出了種類(lèi)繁多的各式探頭，我們的主機(jī)可以通過(guò)接駁不同探頭來(lái)滿(mǎn)足不同情況下的測(cè)量需求，這就需要客戶(hù)掌握主機(jī)和新探頭握手的方法。

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