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Phascope PMP10 Duplex渦流相敏測(cè)厚儀
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更新時(shí)間:2024-09-02 09:58:51

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德國FISCHER菲希爾測(cè)厚儀
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Phascope PMP10 Duplex渦流相敏測(cè)厚儀,菲希爾測(cè)厚儀,fischer FGAB1.3探頭現(xiàn)貨供應(yīng)。

DELTASCOPEFMP10規(guī)格

  Phascope PMP10 Duplex渦流相敏測(cè)厚儀配備有一個(gè)*的和便于讀取的60x30mm(2.4"x1.2"))液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡便,包括單個(gè)測(cè)量讀數(shù),測(cè)量次數(shù),以及顯示操作模式和設(shè)置的圖標(biāo)和符號(hào),2行文本各16個(gè)字母或可自由選擇的符號(hào)用于顯示數(shù)據(jù)和操作員提示用于測(cè)量非磁性涂鍍層例如:鉻、銅、鋅、油漆、搪瓷或塑料在鐵基材上的厚度。

  PhascopePMP10Duplex渦流相敏測(cè)厚儀的應(yīng)用:菲希爾MP10磁感應(yīng)涂層測(cè)厚儀采用根據(jù)DINENISO2178,ASTMB499標(biāo)準(zhǔn)的電磁感應(yīng)方法,根據(jù)電磁感應(yīng)(DINENISO2178)原理,采用微處理器控制的便攜式涂鍍層測(cè)量儀。

5.jpg

Phascope PMP10 Duplex渦流相敏測(cè)厚儀的應(yīng)用領(lǐng)域測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零件防腐鍍層和裝飾性鍍層,如鎳/銅上的鉻電鍍工業(yè)中電鍍液的分析黃金、珠寶和鐘表工業(yè),德國菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPEXDL應(yīng)用實(shí)例:XDLM測(cè)量系統(tǒng)經(jīng)常用來測(cè)量接插件和觸點(diǎn)的各種底材上的Au/Ni,Au/PdNi/Ni,Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如或突起,測(cè)量這些區(qū)域必須使用很小的準(zhǔn)直器或適合樣品形狀的準(zhǔn)直器。例如測(cè)量橢圓形樣品時(shí),就要使用開槽的準(zhǔn)直器以獲得大的信號(hào)強(qiáng)度。

  FISCHERSCOPEX-RAYXDL和XDLM系列與XUL和XULM系列密切相關(guān):兩者都使用相同的接收器,準(zhǔn)直器和濾片組合。配備了標(biāo)準(zhǔn)X射線管和固定準(zhǔn)直器的XDL儀器非常適合大工件的測(cè)量。

  XDLM型號(hào)的X射線源采用微聚焦管,可以測(cè)量細(xì)小的部件,對(duì)低輻射組分有較好的激勵(lì)作用。此外,XDLM配備了可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地為不同的測(cè)量應(yīng)用創(chuàng)造的激勵(lì)條件。



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