菲希爾測厚儀Fischerscope XAN 310
菲希爾測厚儀Fischerscope XAN 310
Fischerscope XAN 310簡介：
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 310是一款X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，特別適用于基本鍍層厚度及合金成分的無損分析。XAN310可以快速分析成分并用克拉顯示測量值，重量%或%o,其他合金成分也會(huì)同時(shí)得出。
FISCHERSCOPE-X-RAY系統(tǒng)有著出色的準(zhǔn)確性和良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器，節(jié)省時(shí)間和精力。由于采用了基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測量。
菲希爾測厚儀產(chǎn)品特點(diǎn)：
菲希爾XAN220型X射線金屬材料分析儀為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優(yōu)化設(shè)計(jì)；
菲希爾測厚儀配備固定的準(zhǔn)直器和基本慮片，特別適用于貴金屬分析
配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，適用于更復(fù)雜的多元素分析
菲希爾代理
由下至上的測量方向，可以簡便地實(shí)現(xiàn)樣品定位菲希爾代理
菲希爾涂層測厚儀FMP10-40 系列涂鍍層測厚儀
測量涂鍍層厚度的靈活解決方案
新一代手提式儀器FMP10-20配上種類繁多的插拔式探 頭提供精確的測量。除了用戶只能創(chuàng)建一個(gè)應(yīng)用程式 外，這些儀器操作簡單、堅(jiān)固耐用，幾乎適合每一種 涂鍍層的測厚要求，這些應(yīng)用包括廣泛的噴涂工件和 特殊的復(fù)雜涂層。FMP10-20系列也具有一般的統(tǒng)計(jì)評 估功能。
根據(jù)您的測量應(yīng)用，您可以選擇磁感應(yīng)方法 (DELTASCOPE FMP10)、電渦流方法(ISOSCOPE FMP10) 或磁感應(yīng)和電渦流兩用儀器(DUALSCOPE FMP20)。
DELTASCOPE FMP10 用于測量非磁性涂鍍層例如：鉻、銅、鋅、油漆、 搪瓷或塑料在鐵基材上的厚度。
ISOSCOPE FMP10 用于測量油漆或塑料在非磁性金屬基材上的厚度； 用于測量鋁基材上陽極氧化層的厚度，也用于測量 導(dǎo)電層在非導(dǎo)電基材上的厚度。
DUALSCOPE FMP20 由于采用了磁感應(yīng)和電渦流兩種方法，且具有自動(dòng)識 別基材的功能，這臺(tái)通用型儀器可以測量鐵/鋼上、 非磁性金屬基材上和非導(dǎo)電基材上眾多涂鍍層的厚度。
德國FISCHER X-RAY XAN 215入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀產(chǎn)品簡介：
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款頗具性價(jià)比的入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無損分析。
它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，從元素氯(17)到鈾(92)，多時(shí)可同時(shí)測定24種元素。
正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，本款儀器有著初設(shè)的準(zhǔn)確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。
*的Si-PIN的*基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。
德國FISCHER X-RAY XAN 215入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀產(chǎn)品應(yīng)用：
菲希爾x射線測厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
珠寶、貴金屬和牙科用合金分析
黃金制品和K金制品分析
鉑金制品和銀制品分析
銠制品分析
其他合金分析和鍍層厚度測量
多鍍層厚度測量
SIGMASCOPE SMP10電導(dǎo)率儀應(yīng)用
鋁，銅加工工業(yè)中的電導(dǎo)率測試。
在航空航天和汽車工業(yè)中，監(jiān)控?zé)崽幚磉^程，鍛鋁合金的強(qiáng)度和硬度。
鋁陽極氧化前電導(dǎo)率檢驗(yàn)。
檢驗(yàn)材料純度等級和廢料分選。
SIGMASCOPE SMP10電導(dǎo)率儀技術(shù)參數(shù)：
電導(dǎo)率測試儀Sigmascope SMP10
手持式渦流非鐵金屬的電導(dǎo)率測試儀，
帶20攝氏度電導(dǎo)率值自動(dòng)歸準(zhǔn)系統(tǒng)。
測量頻率：60、120、240、480KHz
測量范圍：1-112% IACS
0.5-65MS/m
