菲希爾測(cè)厚儀Fischerscope XDL210

菲希爾測(cè)厚儀Fischerscope XDL210

XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。X射線熒光光譜儀，用于對(duì)保護(hù)和裝飾涂料，量產(chǎn)的零件和印制板上的涂層進(jìn)行手動(dòng)或自動(dòng)厚度測(cè)量。菲希爾熒光鍍層分析儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210適合鍍層厚度測(cè)量的耐用儀器，即使大測(cè)量距離也可以測(cè)量（DCM，范圍0-80mm）。配備一個(gè)固定的準(zhǔn)直器和固定的濾片。適合測(cè)量點(diǎn)在1mm以上的應(yīng)用；跟XUL類似?？蛇x用自動(dòng)測(cè)量的可編程工作臺(tái).

FISCHERSCOPE-X-RAY XDL是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認(rèn)可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來(lái)的。與上一代相類似，它尤其適合無(wú)損測(cè)量鍍層厚度及材料分析，同時(shí)還能全自動(dòng)測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板。比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。由于采用了Fischer 基本參數(shù)法，無(wú)論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測(cè)量。zui多可同時(shí)測(cè)量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。

設(shè)置FISCHER XRF測(cè)量?jī)x器–這就是獲得測(cè)量結(jié)果的方式：

必須注意細(xì)節(jié)：衡量成功與否與每個(gè)組成部分都息息相關(guān)！

X射線管和陽(yáng)極材料：

小零件，有大影響！XRF設(shè)備的“心臟"，即X射線發(fā)生器，由一個(gè)帶有鎢、銠、鉬或鉻陽(yáng)極的標(biāo)準(zhǔn)或微聚焦射線管組成。這些部件決定了達(dá)到哪種測(cè)量精度和哪種能譜。

濾波器：

只有必要的東西才能通過(guò)：X射線束通過(guò)濾波器，以降低相關(guān)能量范圍內(nèi)的背景噪聲，從而對(duì)來(lái)自僅以低濃度存在的材料的信號(hào)實(shí)現(xiàn)更高的靈敏度。

孔徑和X射線光學(xué)元件：

菲舍爾的聚焦！作為全球僅有的兩家多毛細(xì)管光學(xué)器件的制造商之一，我們能夠?qū)⒋蟛糠殖跫?jí)輻射集中在一個(gè)微小的測(cè)量點(diǎn)上。

探測(cè)器：

只有在Fischer，您可以選擇3種不同的探測(cè)器類型，以實(shí)現(xiàn)測(cè)量任務(wù)的解決方案：比例計(jì)數(shù)管、硅PIN二極管和硅漂移探測(cè)器。