菲希爾測厚儀XDL210上海代理
菲希爾測厚儀XDL210上海代理
經(jīng)過20多年的努力, 現(xiàn)在的熒光X-射線電鍍膜厚儀能夠準確的測量微小面積的鍍層厚度，測量精度達到納米級,已被電子零部件、印制電路板、汽車零部件、各種電鍍產(chǎn)品生產(chǎn)及相關(guān)廠商廣泛使用和認可。
X-射線電鍍膜厚儀應(yīng)用 : 測量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可偵測元素的范圍：CL(17)~U(92 )。
行業(yè) : 五金類、螺絲類、 PCB 類、連接器端子類行業(yè)、電鍍類等。
特色 : 非破壞，非接觸式檢測分析，快速精準。 可測量高達4層的鍍層 (4層厚度 + 底材 ) 并可同時分析多至24種元素。
相容Microsoft微軟作業(yè)系統(tǒng)之測量軟體，操作方便，直接可用Office軟體編輯報告 。
全系列*設(shè)計樣品與光徑自動對準系統(tǒng)。
標準配備: 溶液分析軟體 ，可以分析電鍍液成份與含量。
準直器口徑多種選擇，可根據(jù)樣品大小來選擇準值器的口徑。
移動方式：全系列全自動載臺電動控制，減少人為視差 。
*2D與3D或任意位置表面量測分析。
適用于Windows2000或Windows XP的真Win32位程序帶在線幫助功能。
頻譜庫中允許創(chuàng)建從元素鈦至鈾的任何一種新的產(chǎn)品。
能通過“應(yīng)用工具箱"(由一個帶所有應(yīng)用參數(shù)的軟盤和校準標準塊組成)使應(yīng)用的校準簡單化。
畫中畫測試件查看和數(shù)據(jù)顯示，帶快速移動焦距功能放大試件圖像；計算機生成的刻度化的瞄準十字星，并有X-射線光束大小指示器（光束的大小取決于測量的距離，見背面）
圖形化的用戶界面，測試件的圖像顯示可插入于測試報告中
對試件與視準器之間的距離進行視覺控制的校正（DCM方法）范圍可達80mm(3.2〞)
菲希爾x射線測厚儀
德國菲希爾膜厚儀的工作原理是，X 射線管產(chǎn)生初級射線照射在受檢物質(zhì)時，會激發(fā)物質(zhì)放射X射線螢光輻射，特定的元素有特定的輻射信號，接收器便會記錄這些能量光譜。不需要先對樣品進行處理便能測量，樣品可直接放入測量室進行測量。不需要復雜、昂貴的儀器來抽真空，便能在正常的環(huán)境下測量從元素Z13鋁到Z92（鈾），固定、漿狀及液體的樣本也可以測量，即使是極小不規(guī)則形狀的測量面積也可快速、免接觸的測量。四種自動轉(zhuǎn)換的準直器可以應(yīng)對各種形狀體積的測量樣品，可應(yīng)對大部分的樣品膜厚檢測；特別適合導電線，連接器，首飾等鍍層厚度測量。菲希爾膜厚測量儀無需對焦及標準片校正即可對樣品快速檢測，結(jié)果。配備多種準直器，以及手動的XY軸移動樣品平臺，可以應(yīng)對大小五金，線路板，汽車零件，衛(wèi)浴，電子，連接器等多種行業(yè)里金屬電鍍層的厚度檢測需要。
