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菲希爾X射線熒光分析儀XDL230
  • 菲希爾X射線熒光分析儀XDL230
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貨物所在地:江蘇無錫市

更新時間:2024-09-02 09:56:54

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德國FISCHER菲希爾測厚儀
德國ElektroPhysik測厚儀
泰勒霍普森TAYLOR HOBSON粗糙度儀
德國MAHR馬爾粗糙度儀
德國HOMMEL霍梅爾粗糙度儀
三豐粗糙度儀
德國BYK
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日本柯尼卡美能達
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菲希爾X射線熒光分析儀XDL230

菲希爾X射線熒光分析儀XDL230

Fischerscope XDl230特點


X射線熒光分析儀能量色散X射線熒光光譜儀,自動進行材料自動分析和鍍層厚度的無損測量,采用ISO 3497和ASTM B 568標準;


X射線熒光分析儀XDLM的最小測量點: 0.1毫米; XDL的最小測量點:約 0.2毫米


菲希爾測厚儀鎢X射線管或鎢微焦點管(XDLM)作為X射線源


菲希爾測厚儀經驗證可用于快速測量的比例接收器探測器

固定或可更改的準直器

固定或可自動切換基本濾片

可選擇手動或可編程的XY載物臺;

開槽箱體設計用于測量大的印刷電路板

通過攝像頭可輕松固定測量位置

經過認證的全面保護設備;


Fischerscope XDl230應用

電鍍鋅鍍層,例如鐵上的鋅層作為防腐層;

批量生產零件的系列測試

特殊鋼成分的分析,例如 檢測A4中的鉬含量

裝飾性鍍鉻層,例如Cr/Ni/Cu/ABS

測量印刷電路板上的功能性鍍層,例如Au/Ni/Cu/ PCB或Sn/Cu/PCB

電子工業(yè)中連接器和觸點上的涂層,如Au/Ni/Cu和Sn/Ni/Cu

圖片30.jpg



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