EPK MINITEST730
EPK MINITEST730
Minitest700系列涂層測厚儀的優(yōu)點一覽：
-MINITEST730 SIDSP使測量不受干擾，測值更加
-可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置）
-EPK測厚儀代理FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤
-EPK測厚儀代理溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
-生產(chǎn)過程中50點校準使儀器獲得高度的特征曲線
-大存儲量，能存儲10或100組多達100,000個讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計值能單獨調(diào)出
-超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作，25種語言可選
-帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機和PC
-可下載更新軟件
探頭
特性EPK測厚儀代理 | F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5 | F2 | F5，N2.5，F(xiàn)N5 | F15 |
F | N | F | F | N | F |
測量范圍EPK測厚儀代理 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
使用范圍EPK測厚儀代理 | 小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用 | 粗糙表面 | 標準探頭，使用廣泛 | 厚涂層 |
測量原理EPK測厚儀 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) |
信號處理EPK測厚儀 | 探頭內(nèi)部32位信號處理（SIDSP） |
精度 | ±（1μm+0.75%讀值） | ±（1.5μm+0.75%讀值） | ±（5μm+0.75%讀值） |
重復(fù)性 | ±（0.5μm+0.5%讀值） | ±（0.8μm+0.5%讀值） | ±（2.5μm+0.5%讀值） |
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm |
最小曲率半徑（凸） | 1.0mm | 1.5mm | 5mm |
最小曲率半徑（凹，外置探頭） | 7.5mm | 10mm | 25mm |
最小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭） | 30mm | 30mm | 30mm |
最小測量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm |
最小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
連續(xù)模式下測量速度 | 每秒20個讀數(shù) |
單值模式下大測量速度 | 每分鐘70個讀數(shù) |
無錫駿展儀器有限責(zé)任公司起源于美國,英國,德國和其他地區(qū)的合作伙伴,與全系列的產(chǎn)品資源和服務(wù),光學(xué)儀器、測量儀器、無損檢測、實驗儀器、分析儀器、測量工具測量工具和其他類型的測試設(shè)備,努力為客戶解決快速分析的測量技術(shù)挑戰(zhàn),聯(lián)合提供定制化精密測量和性能分析系統(tǒng)解決方案，有效推動企業(yè)實現(xiàn)既定目標。
