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Couloscope CMS2 STEP菲希爾
  • Couloscope CMS2 STEP菲希爾
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更新時(shí)間:2024-09-10 09:24:35

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德國(guó)FISCHER菲希爾測(cè)厚儀
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泰勒霍普森TAYLOR HOBSON粗糙度儀
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Couloscope CMS2 STEP菲希爾,儀器通過電解退鍍方式測(cè)量鍍層厚度。還可使用庫(kù)侖法 測(cè)定任何類型底材上的多鍍層厚度。

Couloscope CMS2 STEP菲希爾

COULOSCOPE CMS2 系列儀器通過電解退鍍方式測(cè)量鍍層厚度。還可使用庫(kù)侖法 測(cè)定任何類型底材上的多鍍層厚度。CSM2 STEP 版本可對(duì)單種鍍層進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)的STEP測(cè)試,以檢測(cè)電位差(如多層鎳涂層的質(zhì)量控制)。

菲希爾庫(kù)倫法測(cè)厚儀特性:

使用準(zhǔn)確性高的電解退鍍技術(shù)(庫(kù)侖法), 地測(cè)量多鍍層的厚度

圖形顯示的交互方式,易于操作

適用性廣泛:可測(cè)量金屬和非金屬底材上的鍍層厚度,也適合測(cè)量多鍍層厚度

提供全面的附件產(chǎn)品供您選擇,可滿足特定需求

菲希爾鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用:

金屬和非金屬底材上任何類型的金屬鍍層

單層或多層的鍍層厚度測(cè)量

特別適用于通過 STEP 測(cè)試進(jìn)行多層鎳測(cè)量

適用于 0.05 µm 至 40 µm 的鍍層厚度測(cè)量

Couloscope CMS2 STEP菲希爾


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