廣東德瑞檢測設(shè)備有限公司
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電子元器件耐寒性恒濕恒溫試驗(yàn)箱

參  考  價(jià):25066 - 85999 /臺(tái)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號

    DR-H201-225C

  • 品牌

    Derui/德瑞檢測

  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)商

  • 所在地

    東莞市

更新時(shí)間:2024-11-22 11:30:24瀏覽次數(shù):459次

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產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 面議
儀器種類 臺(tái)式 應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,紡織皮革,冶金,汽車,電氣
產(chǎn)品類型 恒濕恒溫試驗(yàn)箱 產(chǎn)地 東莞
溫度波動(dòng)度 ±1℃ 溫度控制方式 PID自動(dòng)控溫
控溫精度 ±1℃ 產(chǎn)品重量 400KG
電子元器件耐寒性恒濕恒溫試驗(yàn)箱是專門用于測試電子元器件在特定濕度和溫度條件下的性能和可靠性的設(shè)備。這些試驗(yàn)箱通常具有以下特點(diǎn):
恒溫恒濕控制:電子元器件試驗(yàn)箱可以實(shí)現(xiàn)精確的恒溫恒濕控制,以模擬不同環(huán)境條件下的濕度和溫度。常見的濕度范圍為10% RH至98% RH,溫度范圍為-70°C至150°C。精密的濕度和溫度傳感器:試驗(yàn)箱配備高精度的濕度和溫度傳感器,能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測和記錄測試

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一、控制系統(tǒng):

1. 采用精密液晶顯示可編程溫度控制器;智能型數(shù)顯PID微電腦溫度控制儀表;

2. 觸控式設(shè)定、數(shù)位及直接顯示,濕度直接顯示百分比;溫度控制采用熱平衡調(diào)溫方式;

3. 精密液晶顯示可編程溫度控制器做程序試驗(yàn),可以有多組多段編程操作,定值和程序任選,時(shí)間可任意設(shè)定,可預(yù)約啟動(dòng)及停止時(shí)間,且停電后可按預(yù)約設(shè)定冷熱啟動(dòng);

4. 方便的數(shù)據(jù)處理:可連接電腦(可選配232通訊接口和LAN通訊接口),具有USB數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)移接口(U盤),用電腦顯示,并打印溫濕度和時(shí)間曲線,為試驗(yàn)過程數(shù)據(jù)儲(chǔ)存與回放提供有力保證。

二、冷凍及加熱加濕系統(tǒng):

1. 冷凍機(jī)組采用法國泰康壓縮機(jī),并使用美國杜邦環(huán)保制冷劑(R404a),便于不同溫域采用不同壓縮機(jī)作功。

2. 溫濕度控制采用P.I.D + S.S.R系統(tǒng)同頻道協(xié)調(diào)控制,自動(dòng)演算的功能,可將溫濕度變化條件立即修正,使溫濕度控制更為精確穩(wěn)定。

3. 溫濕度均采用高精密控制器,相對溫濕度性能精確的設(shè)定顯示,溫度分辨率達(dá)到0.01℃,濕度0.1%.R.H.。

4. 鎳鉻合金高速加溫電熱絲加熱,高溫獨(dú)立。

5. 不銹鋼管內(nèi)置鎳鉻合金高速加溫電熱絲和高溫氧化鎂粉加濕,反應(yīng)快壽命長。

6. 加熱、加濕系統(tǒng)獨(dú)立,且濕度有自動(dòng)補(bǔ)水裝置。

電子元器件耐寒性恒濕恒溫試驗(yàn)箱是專門用于測試電子元器件在特定濕度和溫度條件下的性能和可靠性的設(shè)備。這些試驗(yàn)箱通常具有以下特點(diǎn):

恒溫恒濕控制:電子元器件試驗(yàn)箱可以實(shí)現(xiàn)精確的恒溫恒濕控制,以模擬不同環(huán)境條件下的濕度和溫度。常見的濕度范圍為10% RH至98% RH,溫度范圍為-70°C至150°C。

精密的濕度和溫度傳感器:試驗(yàn)箱配備高精度的濕度和溫度傳感器,能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測和記錄測試過程中的濕度和溫度變化。這些數(shù)據(jù)可以用于后續(xù)分析和評估。

可編程控制系統(tǒng):試驗(yàn)箱通常具有可編程的控制系統(tǒng),可以設(shè)定并自動(dòng)調(diào)整濕度和溫度參數(shù)。通過預(yù)先設(shè)置測試程序,可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的測試流程,提高效率并減少人為錯(cuò)誤。

安全保護(hù)措施:針對電子元器件的敏感性,試驗(yàn)箱通常配備過載保護(hù)、短路保護(hù)、過溫保護(hù)等安全保護(hù)措施,以確保測試過程的安全性和可靠性。

數(shù)據(jù)記錄與分析:試驗(yàn)箱通常具備數(shù)據(jù)記錄和分析功能,可以記錄和存儲(chǔ)測試過程中的濕度、溫度和其他相關(guān)參數(shù)數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)可以用于后續(xù)分析和生成測試報(bào)告,幫助評估電子元器件在不同濕度和溫度條件下的性能。

通過使用電子元器件耐寒性恒濕恒溫試驗(yàn)箱,可以對電子元器件在不同濕度和溫度條件下的耐久性、可靠性和適應(yīng)性進(jìn)行全面評估。這有助于制造商優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改善材料選擇,并確保電子元器件在各種應(yīng)用環(huán)境下的穩(wěn)定性和可持續(xù)性。


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