10KPa低溫低氣壓試驗(yàn)箱設(shè)備 返回列表頁(yè)

10KPa低溫低氣壓試驗(yàn)箱設(shè)備特點(diǎn):
具有自動(dòng)加水功能并且在試驗(yàn)過(guò)程中水位過(guò)低時(shí)自動(dòng)補(bǔ)水。
試驗(yàn)過(guò)程自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)至完成結(jié)束，使用簡(jiǎn)便。
溫度控制：LED數(shù)字型溫度控制器可作確試驗(yàn)溫度之設(shè)定、控制及顯示。
計(jì)時(shí)器：LED數(shù)字型計(jì)時(shí)器，當(dāng)鍋內(nèi)溫度到達(dá)後才開(kāi)始計(jì)時(shí)以確保試驗(yàn)理想。
準(zhǔn)的壓力/溫度表隨時(shí)顯示鍋內(nèi)壓力與相對(duì)溫度。
運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)流水器自動(dòng)排出未飽和蒸氣以達(dá)到*佳蒸氣品質(zhì)。
一體成型矽膠門(mén)墊圈，氣密度良好，且使用壽命長(zhǎng)。
試驗(yàn)箱內(nèi)經(jīng)拋光處理經(jīng)久耐用美觀不沾污。

10KPa低溫低氣壓試驗(yàn)箱設(shè)備是一種專門(mén)用于進(jìn)行低溫低氣壓條件下的試驗(yàn)的設(shè)備。它通常由如下組成部分構(gòu)成：

試驗(yàn)箱：試驗(yàn)箱是一個(gè)密封的容器，用于容納待測(cè)試的物品。它通常具有一定的隔熱性能，以保持低溫環(huán)境。同時(shí)，試驗(yàn)箱也需要具備良好的密封性能，以確保試驗(yàn)過(guò)程中不會(huì)發(fā)生氣體泄漏。

冷源系統(tǒng)：冷源系統(tǒng)用于提供低溫環(huán)境。它通常包括制冷機(jī)組、蒸發(fā)器、冷凝器等組件，通過(guò)循環(huán)制冷劑的方式將試驗(yàn)箱內(nèi)部的溫度降低到所需的低溫水平。

氣壓控制系統(tǒng)：氣壓控制系統(tǒng)用于調(diào)節(jié)試驗(yàn)箱內(nèi)部的氣壓。它通常包括真空泵、氣壓傳感器、氣閥等組件，通過(guò)控制氣壓的升降，實(shí)現(xiàn)低氣壓條件下的試驗(yàn)要求。

控制系統(tǒng)：控制系統(tǒng)用于監(jiān)控和控制整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程。它通常包括溫度傳感器、壓力傳感器、液晶顯示屏、控制器等組件，通過(guò)對(duì)各個(gè)部件的監(jiān)測(cè)和控制，確保試驗(yàn)箱設(shè)備能夠按照設(shè)定的參數(shù)進(jìn)行工作。

10KPa低溫低氣壓試驗(yàn)箱主要用于模擬低溫低氣壓環(huán)境下的條件，對(duì)物品的可靠性、耐受性等性能進(jìn)行測(cè)試。它在航空航天、電子元器件、材料科學(xué)等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。

設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)：

GB10592-89   高低溫箱技術(shù)條件

GB11158      高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

GB10589      低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

GB10592      高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T10586-2006   濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T2423.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫

GB/T2423.2-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫

GB/T2423.3-2006  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)

GB/T2423.4-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）

GB/T2423.22-2002  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)節(jié)試驗(yàn)規(guī)程，試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法

GB/T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則

GJB150.3A-2009 JUN用裝備試驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法（高溫試驗(yàn)）

GJB150.4A-2009JUN試驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 （低溫試驗(yàn)）

GJB150.9A-2009JUN試驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 （濕熱試驗(yàn)）

GB2423.1-89  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

GB2423.2-89  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法