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TS3000ProbeSystem半自動(dòng)300mm探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)?模塊量測(cè)-DC-IV/DC-CV/Pulsed-IV?高溫度范圍-60°C至300°C?大的靈...
超低溫磁場(chǎng)探針臺(tái)半自動(dòng)真空低溫探針臺(tái)使晶圓和器件在低溫下9k(singleCCR系統(tǒng))、4.5K(dualCCR系統(tǒng))甚至低于4K(tripleCCR系統(tǒng))的情...
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