布魯克Bruker 三維光學(xué)輪廓儀ContourGT-X 返回列表頁(yè)

ContourGT-X 三維光學(xué)輪廓儀提供高性能非接觸表面測(cè)量，適用于實(shí)驗(yàn)室研究和生產(chǎn)過(guò)程控制。該測(cè)量系統(tǒng)融合了十代白光干涉（WLI）創(chuàng)新和設(shè)計(jì)，可在業(yè)界的視場(chǎng)范圍內(nèi)提供的垂直分辨率。該系統(tǒng)主要包括全自動(dòng)化系統(tǒng)與生產(chǎn)界面，一個(gè)大型電動(dòng) XYZ 平臺(tái)、掃描頭的傾斜/俯仰以及一個(gè)集成氣浮式防震臺(tái)。ContourGT-X 專為滿足的研發(fā)、質(zhì)量保證和工藝質(zhì)量控制需求而設(shè)計(jì)，提供了具有計(jì)量能力的三維光學(xué)精度和測(cè)試穩(wěn)定性解決方案。