布魯克 Bruker光學(xué)輪廓儀 ContourX-200 返回列表頁

ContourX-200 光學(xué)輪廓儀提供了高級表征能力、可選定制配件、和使用方便三者的融合，是同類產(chǎn)品中、最準(zhǔn)確、可重復(fù)性的非接觸式三維表面計(jì)量系統(tǒng)。該計(jì)量系統(tǒng)占地面積小，采用更大視場、5MP 數(shù)碼攝像頭和全新電動(dòng) XY 工作臺(tái)，具有的二維/三維高分辨測量能力。ContourX-200 擁有出色的 Z 軸分辨率和精確度，具備布魯克專有白光干涉（WLI）技術(shù)廣受業(yè)界認(rèn)可的所有優(yōu)勢，而且不存在傳統(tǒng)共聚焦顯微鏡和同類普通光學(xué)輪廓儀的局限性。