菲希爾熒光測(cè)厚儀XULM240的測(cè)量原理信息

菲希爾熒光測(cè)厚儀 XULM240 基于 X 射線(xiàn)熒光光譜分析原理來(lái)測(cè)量鍍層厚度，具體如下：

X 射線(xiàn)激發(fā)：儀器中的微聚焦 X 射線(xiàn)管產(chǎn)生高強(qiáng)度的 X 射線(xiàn)束，當(dāng) X 射線(xiàn)照射到被測(cè)樣品表面時(shí)，會(huì)激發(fā)樣品中的原子。對(duì)于鍍層和基體材料，由于它們的原子種類(lèi)不同，原子結(jié)構(gòu)也存在差異。

熒光產(chǎn)生：被激發(fā)的原子會(huì)從高能級(jí)躍遷到低能級(jí)，同時(shí)輻射出具有特定能量和波長(zhǎng)的 X 射線(xiàn)熒光。不同元素發(fā)出的熒光 X 射線(xiàn)具有特的能量特征，就像人的指紋一樣，是每種元素所有的。例如，金元素發(fā)出的熒光 X 射線(xiàn)能量與銅元素、鎳元素等發(fā)出的能量是不同的。

測(cè)量與分析：探測(cè)器收集并測(cè)量這些熒光 X 射線(xiàn)的能量和強(qiáng)度。根據(jù)不同元素?zé)晒?X 射線(xiàn)的能量可以確定樣品中存在的元素種類(lèi)，而熒光 X 射線(xiàn)的強(qiáng)度則與該元素在樣品中的含量有關(guān)。對(duì)于鍍層厚度的測(cè)量，通過(guò)測(cè)量鍍層元素和基體元素?zé)晒?X 射線(xiàn)的強(qiáng)度，并與已知厚度的標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行對(duì)比，再利用特定的算法和校準(zhǔn)曲線(xiàn)，就可以精確計(jì)算出鍍層的厚度。

這種測(cè)量原理具有非接觸、無(wú)損的優(yōu)點(diǎn)，能夠快速、準(zhǔn)確地測(cè)量各種材料表面的鍍層厚度，并且可以同時(shí)分析多種元素，適用于不同類(lèi)型的鍍層和基體材料組合，在工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量控制中具有廣泛的應(yīng)用。