菲希爾X射線鍍層測厚儀，菲希爾熒光射線測厚儀，XDV-SDD設計為界面友好的臺式測量儀器。它配備了高精度、可編程運行的X/Y軸工作臺和馬達驅動的Z軸升降臺。

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菲希爾X射線測厚儀 鍍層厚度測量，雙層鍍層，其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測量和分析 （兩層的厚度和合金成分都能被測量）；

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Fischer代理維修，可用于快速、無損地進行鍍層測厚及材料分析。對于儀器，您可以根據(jù)您的應用從新的FMP家族（參見下面表格）中選?。粚τ谔筋^， 我們?yōu)槟峁┝?..

貴金屬鍍層厚度測量，F(xiàn)ischerscope X-ray。FISCHERSCOPE-X-RAY XDL 是一款應用廣泛的能量色散型X 射線熒光光譜儀。

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