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菲希爾|Fischer|測厚儀

菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY特點

菲希爾鍍層測厚儀高性能機型，具有強大的綜合測量能力

菲希爾鍍層測厚儀配有4 個電動調(diào)節(jié)的準(zhǔn)直器和6個電動調(diào)節(jié)的基本慮片

菲希爾鍍層測厚儀配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復(fù)雜的多元素分析

菲希爾鍍層測厚儀由下至上的測量方向，可以非常簡便地實現(xiàn)樣品定位  

Fischer X射線測厚儀 X-RAY典型應(yīng)用領(lǐng)域

Fischer X射線測厚儀 X-RAY對電子和半導(dǎo)體行業(yè)中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量

Fischer X射線測厚儀 X-RAY對有害物質(zhì)進行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量

Fischer X射線測厚儀 X-RAY在珠寶和手表業(yè)，以及在金屬精煉領(lǐng)域，對合金進行高精度的分析

Fischer X射線測厚儀 X-RAY用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領(lǐng)域 

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