TAYLOR粗糙度儀SURTRONIC S128 返回列表頁

TAYLOR粗糙度儀SURTRONIC S128

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S128任何表面，任何高度

包括一個(gè)50mm長的測(cè)針升降裝置和直角附件，以及孔深可達(dá)70mm的能力，在不需要昂貴的墊塊支架或工裝的情況下，對(duì)具挑戰(zhàn)性的測(cè)量位置進(jìn)行檢測(cè)。防滑的V型腳架設(shè)計(jì)使得該系統(tǒng)能夠用在平滑或者彎曲的表面上。測(cè)針還能夠翻轉(zhuǎn)向上測(cè)量。

輪廓圖

詳細(xì)的輪廓圖形能夠顯示測(cè)量區(qū)域，能夠幫助分辨出有問題的區(qū)域。

設(shè)置簡(jiǎn)單

輕觸快捷鍵即可進(jìn)行所有關(guān)鍵設(shè)置。

迷你USB 2.0

用于充電（任何標(biāo)準(zhǔn)USB充電器）或連接電腦傳輸數(shù)據(jù)。

A類型USB 2.0

可連接便攜式打印機(jī)或者USB儲(chǔ)存設(shè)備

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S128方向切換

可將屏幕旋轉(zhuǎn)四個(gè)方向，非常適用于不順手的測(cè)量位置。

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S128行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和可追溯性

所提供的標(biāo)準(zhǔn)能夠用于校正儀器和檢查測(cè)針磨損，以確?？偰軌虻玫綔?zhǔn)確的測(cè)量

測(cè)量

測(cè)量能力

粗糙度標(biāo)準(zhǔn)(Ra)

±(2% + 0.004 μm)

工件或者元件表面(Ra)

一次測(cè)量值±3%

UKAS校準(zhǔn)和測(cè)試

泰勒?霍普森能在建造的ISO等級(jí)的

UKAS潔凈室對(duì)制成品和儀器進(jìn)行全面的校準(zhǔn)和認(rèn)證。我們的UKAS實(shí)驗(yàn)室能夠測(cè)量所有與表面粗糙度相關(guān)的參數(shù)，包括法國、德國、美國和日本在內(nèi)的其他標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)類型。