Fischer鍍層測厚儀 返回列表頁

Fischer鍍層測厚儀

菲希爾鍍層測厚儀COULOSCOPE CMS2 STEP

庫侖法的成本效益高，可準(zhǔn)確地替代X射線熒光法-前提是你可以接受一種破壞性的測量方法。它為您提供了很大的靈活性，因為它可以用于廣泛的鍍層組合。您可以使用庫侖法測量鍍層厚度，特別是在電鍍鍍層的質(zhì)量控制中，以及用于監(jiān)測印刷電路板上的殘余純錫厚度。

菲希爾鍍層測厚儀STEP測試:庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳的電化學(xué)電位測量

如果你想在使用庫侖法測量鍍層厚度的同時測量電化學(xué)電勢，那么COULOSCOPE CMS2 STEP就是你的選擇。STEP測試方法可以同時測量多層鎳鍍層的電位差和鍍層厚度，非常適合測定這些鍍層的腐蝕行為。

菲希爾鍍層測厚儀COULOSCOPE CMS2 STEP特性

1. 高精度測量多層金屬鍍層的厚度(庫侖法)

2. 根據(jù)DIN EN ISO 2177進行測量

3. 通過彩色顯示屏和圖形支持的用戶指南直觀地操作

4. 可輕松選擇電解速度(0.1-50微米/分鐘)和電解面積(0.6-3.2mm)

5. 針對不同鍍層系統(tǒng)(如鐵上鍍鋅或黃銅上鍍鎳)預(yù)先設(shè)定了近100種測量應(yīng)用

6. 測量單元上電壓曲線的圖形顯示

7. 圖形和統(tǒng)計評估

8. 帶支撐架的部分自動化測量，適用于各種樣品尺寸

9. 全面的配件組合，以適應(yīng)特定的要求

10. COULOSCOPE CMS2 STEP的附加功能

11. 同時測量鍍層厚度和電位差

12. 根據(jù)ASTM B764 - 04和DIN EN 16866進行電位差測試

13. 銀參比電極測量前的準(zhǔn)備工作(產(chǎn)生必要的AgCl層)

14. 電解電流可調(diào)整

15. 可直接在測厚儀顯示器上評估電位曲線

菲希爾鍍層測厚儀COULOSCOPE CMS2 STEP應(yīng)用

1. 電鍍生產(chǎn)過程中的監(jiān)控和成品的進廠檢驗

2. 可以準(zhǔn)確測量多種金屬鍍層的厚度0.05–50µm(根據(jù)材料不同)

3. 金屬和非金屬基材上單層和多層鍍層厚度的測量

4. 多鍍層體系：例如在鐵或塑料基體(ABS)上鍍鉻/鎳/銅等多層鍍層

5. 雙鍍層體系：例如銀或銅上面鍍錫或鍍鎳

菲希爾鍍層測厚儀COULOSCOPE CMS2 STEP單鍍層如鐵上鍍鋅

COULOSCOPE CMS2 STEP的額外應(yīng)用

1. STEP測試：在銅、鐵、鋁或塑料襯底(ABS)上的多層鎳層系統(tǒng)