Fischerscope X-RAY XDL240鍍層測厚儀 返回列表頁

Fischerscope X-RAY XDL240鍍層測厚儀

菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY XDL 240特點

§ 用途廣泛的鍍層厚度測量儀

§ 通過組合可選的高壓和濾片，可以對較薄的鍍層（如50 nm Au 或 100 μm Sn）和較厚的鍍層進行同樣效果的測量.

§ 配有的微聚焦管，可以測量100 μm大小的微小測量點

§ 比例計數(shù)器可實現(xiàn)數(shù)千cps（每秒計數(shù)率）的高計數(shù)率

§ 從下至上的射線方向，從而可以快速簡便的放置樣品。

§ 底部C型開槽的大容量測量艙

菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY XDL 240典型應(yīng)用領(lǐng)域

§ 測量線路板工業(yè)中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的鍍層

§ 電子行業(yè)中接插件和觸點上的鍍層

§ 裝飾性鍍層Cr/Ni/Cu/ABS

§ 電鍍鍍層，如大規(guī)模生產(chǎn)零件（螺栓和螺母）上的防腐蝕保護層Zn/Fe，ZnNi/Fe

§ 珠寶和鐘表工業(yè)

§ 測量電鍍液中金屬成分含量