fischer菲希爾鍍金層測厚儀 返回列表頁

fischer菲希爾鍍金層測厚儀

菲希爾X熒光射線測厚儀菲希爾鍍金層測厚儀應(yīng)用范圍：
菲希爾X熒光射線測厚儀菲希爾鍍金層測厚儀無論是電鍍廠的簡單的鍍層厚度測量（例如鐵上鍍鋅），Fischer X射線測厚儀還是鍍液分析，復(fù)雜的多鍍層應(yīng)用， 非常復(fù)雜的貴金屬分析或痕量分析（RoHS），一個軟件程序就可以完成所有的測量應(yīng)用：WinFTM。

Fischer X射線測厚儀儀器描述：

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL和FISCHERSCOPE X-RAY XDLM菲希爾X射線測厚儀系列與XUL和XULM系列密切相關(guān)：兩者都使用相同的接收器，準直器和濾片組合。配備了標準X射線管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。
XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，無錫駿展儀器可以測量細小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。此外，XDLM配備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造理想的激勵條件。

兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點，無錫駿展儀器供應(yīng)X射線測厚儀由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計數(shù)率，確保良好的重復(fù)精度。
比較XUL和XULM儀器而言，XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從上到下。它們被設(shè)計為用戶友好的臺式機，使用模塊化結(jié)構(gòu)，也就是說它們可以配備簡單支板，各種XY工作臺和Z軸以適應(yīng)不同的需求。