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X射線測厚儀Fischerscope X-ray XAN222

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號

品       牌Helmut Fischer/德國菲希爾

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所  在  地無錫市

更新時間：2024-04-13 13:49:34瀏覽次數(shù)：383次

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產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 面議
應用領域 環(huán)保,制藥,綜合
X射線測厚儀Fischerscope X-ray XAN222,XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni，Au/PdNi/Ni，Ag/Ni或Sn/ Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如或突起，測量這些區(qū)域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時，就要使用開槽的準直器以獲得zui大的信號強度。

X射線測厚儀Fischerscope X-ray XAN222

FISCHERSCOPE X-RAY XAN220/222X射線熒光測量儀 商品特點

  • 菲希爾X射線測厚儀Fischer代理為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優(yōu)化設計

  • 菲希爾X射線測厚儀Fischer代理配備固定的準直器和基本慮片，特別適用于貴金屬分析

  • 菲希爾X射線測厚儀Fischer代理配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，適用于更復雜的多元素分析

  • 由下至上的測量方向，可以簡便地實現(xiàn)樣品定位

FISCHERSCOPE X-RAY XAN220/222 X射線熒光測量儀 商品應用

  • 在珠寶和鐘表行業(yè)中的黃金和貴重金屬分析

  • 牙科行業(yè)中的材料合金分析

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