菲希爾熒光測厚儀 返回列表頁

菲希爾熒光測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XAN500菲希爾X射線測厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及進(jìn)行材料分析。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY儀器一樣，本款儀器有著出色的精確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。

FISCHERSCOPE X-RAY XAN500采用先進(jìn)的硅漂移探測器能夠達(dá)到非常高的分析精度及探測靈敏度。依靠FISCHER的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

使用FISCHERSCOPE X-RAY XAN500菲希爾X射線測厚儀可以對大型工件以及臺式儀器難以測量的位置進(jìn)行便捷快速的測量。設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)的優(yōu)化使得儀器可以唄安全第放置到工件上，無論是鍍層測厚或者材料分析，都可以保證其測量結(jié)果的再現(xiàn)性。同時(shí)，儀器可選配便攜式智能箱，使其成為小型的臺式測量設(shè)備，以便檢測小型樣品。