菲希爾涂層測厚儀XDL210 返回列表頁

菲希爾涂層測厚儀XDL210

德國菲希爾X射線膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230//240

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL210/220/230/240特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230/240典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

• 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

• 測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻

• 測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

• 測量印刷線路板

• 分析電鍍?nèi)芤?/p>

德國菲希爾fischer xdl-230鍍層膜厚測試儀

德國菲希爾進(jìn)口無錫駿展儀器供應(yīng)FISCHERSCOPE XDL230有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了FISCHER*基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測量和分析。