SURTRONIC S128粗糙度儀、泰勒 返回列表頁

SURTRONIC S128粗糙度儀、泰勒

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S128

Ra是常用的粗糙度參數(shù)。RA：表示輪廓算術(shù)平均偏差。在取樣長度內(nèi)，沿測量方向(Y方向）的輪廓線上的點(diǎn)與基準(zhǔn)線之間距離值的算術(shù)平均值。

rp.Rp：表示大輪廓波峰高度。在取樣長度內(nèi)，大的輪廓高峰頂線和低谷底線之間的距離。當(dāng)分析一個(gè)以上的取樣長度時(shí)，Rp是每個(gè)樣品的單個(gè)Rp值的平均值。

RSm。rsm是在取樣長度內(nèi)測量的平均線處輪廓峰之間的平均間距。（輪廓峰是輪廓的高點(diǎn)，位于平均線的上下交叉點(diǎn)之間）。
RZ。Rz=Rp+Rv，是分析一個(gè)以上采樣長度時(shí)，一個(gè)采樣長度內(nèi)剖面的大峰谷高度Rz是每個(gè)采樣長度的單個(gè)Rz值的平均值。
Rz1大值。在取樣長度范圍內(nèi)，剖面的大峰谷高度。在多個(gè)采樣長度上測量時(shí)，取大的單個(gè)采樣長度值。過去也被稱為Rymax、Ry、Rmax或RTI