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菲希爾X射線鍍層測(cè)厚儀XDL210，XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)...

菲希爾X射線測(cè)厚儀XDLM 237，XDLM 237 X射線熒光鍍層測(cè)厚材料分析儀采用手動(dòng)或自動(dòng)方式，測(cè)量和分析微小結(jié)構(gòu)的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部...