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FISCHERSCOPE X-RAY XAN252，高性能X射線熒光測量儀，配有硅漂移探測器(SDD)，可快速、無損地進(jìn)行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。

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測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL220，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDL-210又名X 射線熒光光譜儀，采用手動或自動方式，測量和...

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