基于計算機斷層掃描顯微成像技術（micro-CT）的SKYSCAN 1272 CMOS，是一套創(chuàng)新的、高分辨率的臺式三維X射線顯微成像系統(tǒng)，整合了最新的X射線技術。

1600萬像素sCMOS X射線探測器提供了高的分辨率，可生成高對比度圖像。擴展的探測器視野和增強的X射線靈敏度使掃描時間縮短了一倍。每個切片的原始分辨率高達11200 x 11200像素，可以在不重新掃描樣品的情況下放大到三維體積的任何部分。新的Clean Image™掃描模式從一開始就大大減少了典型的CT偽影，從而提供了高質量的圖像，無需繁瑣的事后校正。

布魯克臺式SKYSCAN 1272 CMOS版可以放置在任何實驗室的實驗臺上，無需占用大量昂貴的實驗室空間。只需一個標準的家用電源插頭即可運行，也不需要水冷或額外的壓縮機。此外，工業(yè)級的密封X射線源是免維護的，因此也沒有其他隱性成本。SKYSCAN 1272搭載3D.SUITE軟件。這個全面的軟件包涵蓋了GPU加速重建、2D/3D形態(tài)學分析以及表面和體積渲染的可視化。

SKYSCAN 1272 高分辨率三維 X 射線顯微鏡特點：

SKYSCAN 1272憑借Genius模式可自動選擇參數(shù)。只需單擊一下，即可自動優(yōu)化放大率、能量、過濾、曝光時間和背景校正。

而且，由于能讓樣品和大尺寸sCMOS鏡頭盡可能地靠近光源，它能大幅地增加實測的信號強度。正是因為這個原因，SKYSCAN 1272的掃描速度比探測器位置固定的常規(guī)系統(tǒng)最多可快5倍。

自動進樣器

SKYSCAN 1272可以選擇配合一個有16個位置的外置自動進樣器，以增加進行質量控制和常規(guī)分析時的處理速度。

自動進樣器可以容納不同尺寸的樣品，樣品直徑最大可達25 mm。

可以隨時很方便地切換樣品，不會中斷正在進行的掃描過程。系統(tǒng)可以自動檢測新樣品，LED可以顯示每一次掃描的狀態(tài)：準備、掃描和完成。

原位試驗臺

布魯克的材料試驗臺可以進行最大4400 N的壓縮試驗和最大440 N的拉伸試驗。所有試驗臺都能通過系統(tǒng)的旋轉臺自動聯(lián)系到一起，而無需任何外接線纜。通過使用所提供的軟件，可以設置預定掃描試驗。

布魯克的加熱臺和冷卻臺可以達到最高+80oC或z低低于環(huán)境溫度低30oC的溫度。和其它的試驗臺一樣，加熱和冷卻臺也不需要任何額外的連接，系統(tǒng)可以自動地識別不同的試驗臺。通過使用加熱臺和冷卻臺，可在非環(huán)境條件下檢測樣品，從而評估溫度對樣品微觀結構的影響。

SKYSCAN 1272 高分辨率三維 X 射線顯微鏡技術參數(shù)：