基于計(jì)算機(jī)斷層掃描顯微成像技術(shù)（micro-CT）的SKYSCAN 1272 CMOS，是一套創(chuàng)新的、高分辨率的臺(tái)式三維X射線顯微成像系統(tǒng)，整合了最新的X射線技術(shù)。

1600萬(wàn)像素sCMOS X射線探測(cè)器提供了高的分辨率，可生成高對(duì)比度圖像。擴(kuò)展的探測(cè)器視野和增強(qiáng)的X射線靈敏度使掃描時(shí)間縮短了一倍。每個(gè)切片的原始分辨率高達(dá)11200 x 11200像素，可以在不重新掃描樣品的情況下放大到三維體積的任何部分。新的Clean Image™掃描模式從一開始就大大減少了典型的CT偽影，從而提供了高質(zhì)量的圖像，無(wú)需繁瑣的事后校正。

布魯克臺(tái)式SKYSCAN 1272 CMOS版可以放置在任何實(shí)驗(yàn)室的實(shí)驗(yàn)臺(tái)上，無(wú)需占用大量昂貴的實(shí)驗(yàn)室空間。只需一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的家用電源插頭即可運(yùn)行，也不需要水冷或額外的壓縮機(jī)。此外，工業(yè)級(jí)的密封X射線源是免維護(hù)的，因此也沒有其他隱性成本。SKYSCAN 1272搭載3D.SUITE軟件。這個(gè)全面的軟件包涵蓋了GPU加速重建、2D/3D形態(tài)學(xué)分析以及表面和體積渲染的可視化。

SKYSCAN 1272 高分辨率三維 X 射線顯微鏡特點(diǎn)：

SKYSCAN 1272憑借Genius模式可自動(dòng)選擇參數(shù)。只需單擊一下，即可自動(dòng)優(yōu)化放大率、能量、過(guò)濾、曝光時(shí)間和背景校正。

而且，由于能讓樣品和大尺寸sCMOS鏡頭盡可能地靠近光源，它能大幅地增加實(shí)測(cè)的信號(hào)強(qiáng)度。正是因?yàn)檫@個(gè)原因，SKYSCAN 1272的掃描速度比探測(cè)器位置固定的常規(guī)系統(tǒng)最多可快5倍。

自動(dòng)進(jìn)樣器

SKYSCAN 1272可以選擇配合一個(gè)有16個(gè)位置的外置自動(dòng)進(jìn)樣器，以增加進(jìn)行質(zhì)量控制和常規(guī)分析時(shí)的處理速度。

自動(dòng)進(jìn)樣器可以容納不同尺寸的樣品，樣品直徑最大可達(dá)25 mm。

可以隨時(shí)很方便地切換樣品，不會(huì)中斷正在進(jìn)行的掃描過(guò)程。系統(tǒng)可以自動(dòng)檢測(cè)新樣品，LED可以顯示每一次掃描的狀態(tài)：準(zhǔn)備、掃描和完成。

原位試驗(yàn)臺(tái)

布魯克的材料試驗(yàn)臺(tái)可以進(jìn)行最大4400 N的壓縮試驗(yàn)和最大440 N的拉伸試驗(yàn)。所有試驗(yàn)臺(tái)都能通過(guò)系統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)臺(tái)自動(dòng)聯(lián)系到一起，而無(wú)需任何外接線纜。通過(guò)使用所提供的軟件，可以設(shè)置預(yù)定掃描試驗(yàn)。

布魯克的加熱臺(tái)和冷卻臺(tái)可以達(dá)到最高+80oC或z低低于環(huán)境溫度低30oC的溫度。和其它的試驗(yàn)臺(tái)一樣，加熱和冷卻臺(tái)也不需要任何額外的連接，系統(tǒng)可以自動(dòng)地識(shí)別不同的試驗(yàn)臺(tái)。通過(guò)使用加熱臺(tái)和冷卻臺(tái)，可在非環(huán)境條件下檢測(cè)樣品，從而評(píng)估溫度對(duì)樣品微觀結(jié)構(gòu)的影響。

SKYSCAN 1272 高分辨率三維 X 射線顯微鏡技術(shù)參數(shù)：