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| 應用領域 | 化工,石油,能源,冶金,航天 |
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新標準像質計 X射線探傷配件
一、產品簡介：·像質計能測定射線底片的靈敏度，根據在底片上顯示的像質計的影像，可以判斷底片影像的質量，并可評定透照技術、膠片暗室處理情況、缺陷檢驗能力等。·像質計通常用與被檢工件材質相同或對射線吸收性能相似的材料制作。·像質計中設有一些人為的有厚度差的結構如槽、孔、金屬絲等，其尺寸與被檢工件厚度有一定關系。·射線底片上的線型像質計影像可以作為一種性的證據，表明射線透照檢測是在適當條件下進行的，但線型像質計的指示數值并不等于被檢工件中可以發(fā)現(xiàn)的自然缺陷的實際尺寸。二、技術參數·符合NB/T 47013-2015國家標準·規(guī)格：等徑6～16號
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