上平 實(shí)驗(yàn)室機(jī)械光學(xué)分析天平 參考價(jià):面議
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梅特勒托利多萬(wàn)分之一0.0001g電子分析天平廣泛適用于科研實(shí)驗(yàn) ,珠寶測(cè)量,零件測(cè)量,學(xué)校實(shí)驗(yàn)等多種領(lǐng)域,精密分析天平,不銹鋼秤盤(pán)彰顯品質(zhì),高精度傳感器測(cè)量精...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)