對(duì)于半導(dǎo)體控溫廠家來說，半導(dǎo)體控溫裝置的電氣測(cè)試是很重要的，那么，關(guān)于半導(dǎo)體控溫裝置的電氣裝置不了解的用戶需要仔細(xì)了解清楚的。
很多測(cè)試工程師都會(huì)發(fā)現(xiàn)半導(dǎo)體控溫裝置的結(jié)果往往都不能預(yù)見，即使是用*ATE也不能保證測(cè)試結(jié)果的正確性。很多情況下，必須對(duì)產(chǎn)品重新測(cè)試，浪費(fèi)了大量時(shí)間。半導(dǎo)體控溫裝置電氣測(cè)試可信度簡而言之就是衡量一個(gè)測(cè)試設(shè)備提供給使用者測(cè)試結(jié)果正確性的指標(biāo)。一個(gè)電氣測(cè)試可信度很高的測(cè)試設(shè)備無需作重復(fù)的測(cè)試，從而節(jié)省大量寶貴的測(cè)試時(shí)間。 如果把一次測(cè)試下來的失效器件重測(cè)，其中有些可能會(huì)通過測(cè)試，原因在于原始的錯(cuò)誤可能由測(cè)試設(shè)備造成的，而非器件本身。這樣的失效被稱為“非正常失效”，測(cè)試可信度可以通過衡量這些“非正常失效”的數(shù)量來計(jì)算。
半導(dǎo)體控溫裝置電氣測(cè)試非正常失效產(chǎn)生有很多原因，可能是DUT和測(cè)試頭之間接觸不良、測(cè)試設(shè)備硬件問題、不合理的硬件搭構(gòu) 、金屬接觸面氧化或污染導(dǎo)致接觸失效、測(cè)試環(huán)境濕度過高、GR&R過高，其中一條是很多測(cè)試工程師面臨的普遍問題，其原因有DUT引腳和接觸面沒有對(duì)齊、接觸器件老化、接觸器件氧化和污染、接觸面濕度太大。
對(duì)于使用半導(dǎo)體控溫廠家的控溫設(shè)備用戶來說，在使用之前需要仔細(xì)了解其使用說明，避免不當(dāng)使用造成半導(dǎo)體控溫裝置故障。（本文來源網(wǎng)絡(luò)，如有侵權(quán)請(qǐng)聯(lián)系無錫冠亞刪除，謝謝。）
