無錫冠亞射流式高低溫沖擊測試機(jī)給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供快速的環(huán)境溫度。是對產(chǎn)品電性能測試、失效分析、可靠性評估*的儀器設(shè)備。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體企...

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射流式高低溫沖擊測試機(jī)給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供快速的環(huán)境溫度。是對產(chǎn)品電性能測試、失效分析、可靠性評估*的儀器設(shè)備。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體企業(yè)、航空...

半導(dǎo)體制冷冷水機(jī)滿足溫度控制需求的典型應(yīng)用：適合元器件測試用設(shè)備，在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃...

-85℃- 250℃納米半導(dǎo)體/元器件冷水機(jī)的典型應(yīng)用：適合元器件測試用設(shè)備，在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫...

-92℃~250℃TEC半導(dǎo)體冷水機(jī)的典型應(yīng)用：適合元器件測試用設(shè)備，在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-8...

半導(dǎo)體高低溫測試?yán)渌畽C(jī)寬溫度定向升降的典型應(yīng)用：適合元器件測試用設(shè)備，在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-8...

高精度芯片高低溫測試電子冷熱測試的典型應(yīng)用：適合元器件測試用設(shè)備，在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃...