電子元器件高溫貯存試驗chiller選型條件 返回列表頁

 電子元器件高溫貯存試驗chiller選型條件

電子元器件高溫貯存試驗chiller選型條件

　　電子元器件高溫貯存試驗chiller準確選型需要滿足6個條件，當我們需要購買電子元器件高溫貯存試驗chiller組時，選型就成了擺在我們的重要問題，選大了會浪費物力資源，選小了達不到要的降溫效果，那么怎么樣才能準確選擇電子元器件高溫貯存試驗chiller組呢？

　　在日常使用中制冷的設(shè)備有很多種，然而電子元器件高溫貯存試驗chiller的應(yīng)用范圍則相對較廣，它可以將溫度控制在特定的范圍內(nèi)，而且制冷效果穩(wěn)定，適合各行業(yè)使用。

　　選擇電子元器件高溫貯存試驗chiller時，先應(yīng)該考慮到工廠對制取溫度的要求。比如用于空氣調(diào)節(jié)的電子元器件高溫貯存試驗chiller和用于低溫工程的電子元器件高溫貯存試驗chiller，往往會有根本上的差別。

　　電子元器件高溫貯存試驗chiller制冷量的大小直接關(guān)系到整個機組的能量消耗和運行經(jīng)濟效果，這是值得重視的。特別是在設(shè)計冷站的時候，一般情況下不設(shè)單臺電子元器件高溫貯存試驗chiller，這主要是考慮到當一臺電子元器件高溫貯存試驗chiller發(fā)生故障或停機檢修時，不致停產(chǎn)，而應(yīng)結(jié)合生產(chǎn)情況，選定合理的機組臺數(shù)。

　　冷卻水的水質(zhì)好壞，對熱交換器的影響較大，其危及設(shè)備的作用是結(jié)垢和腐蝕，這不僅會影響到電子元器件高溫貯存試驗chiller制冷量的降低，而且嚴重時會導致?lián)Q熱管堵塞與破損。

電子元器件高溫貯存試驗chiller運行時都會產(chǎn)生振動，只是頻率與振幅大小因機組類型不同相差較大。如果有防振要求時，應(yīng)選用振幅較小的電子元器件高溫貯存試驗chiller。（本文來源網(wǎng)絡(luò)，如有侵權(quán)，請聯(lián)系刪除。）