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高度卡尺校準(zhǔn)規(guī)范
高度卡尺的校準(zhǔn)需遵循嚴(yán)格的規(guī)范流程，涵蓋前期準(zhǔn)備、校準(zhǔn)實(shí)施、結(jié)果處理三個(gè)核心環(huán)節(jié)，具體規(guī)范如下：
一、前期準(zhǔn)備
環(huán)境條件
溫度：20℃±5℃(避免熱脹冷縮影響精度)。
濕度：≤80%RH(防止電子元件受潮或金屬部件生銹)。
清潔度：無(wú)振動(dòng)、無(wú)灰塵，確保測(cè)量基準(zhǔn)面無(wú)污染。
校準(zhǔn)工具
標(biāo)準(zhǔn)量塊：根據(jù)高度卡尺量程選擇0級(jí)或1級(jí)精度量塊。
校準(zhǔn)平臺(tái)：大理石或鑄鐵平臺(tái)，平面度誤差≤0.005mm。
清潔工具：無(wú)塵布、酒精(用于清潔卡尺和量塊)。
記錄工具：校準(zhǔn)記錄表、筆。
設(shè)備檢查
外觀檢查：確認(rèn)卡尺無(wú)裂紋、銹蝕、劃痕，刻度清晰。
功能檢查：滑動(dòng)是否順暢，鎖緊裝置是否有效，數(shù)字顯示是否正常(如為電子卡尺)。
等溫處理：將卡尺與量塊放置在校準(zhǔn)環(huán)境中至少2小時(shí)，消除溫度差異。
二、校準(zhǔn)實(shí)施
零位校準(zhǔn)
將高度卡尺的測(cè)量爪(或測(cè)頭)輕輕接觸平臺(tái)表面。
調(diào)整卡尺零位，使刻度歸零(或數(shù)字顯示為0.00mm)，確保測(cè)量爪與平臺(tái)表面貼合無(wú)間隙。
重復(fù)3次，取平均值作為零位基準(zhǔn)。
示值誤差校準(zhǔn)
校準(zhǔn)點(diǎn)選擇：至少選擇5個(gè)校準(zhǔn)點(diǎn)，均勻分布在量程內(nèi)(如0mm、50mm、100mm、150mm、200mm)。
操作步驟：
將標(biāo)準(zhǔn)量塊(如5mm、10mm、20mm等)放置在平臺(tái)上。
用高度卡尺測(cè)量量塊高度，記錄卡尺示值。
計(jì)算示值誤差：誤差 = 卡尺示值 - 量塊標(biāo)準(zhǔn)值(示例：量塊標(biāo)準(zhǔn)值10.000mm，卡尺示值10.002mm，誤差為+0.002mm)。
誤差需在允許范圍內(nèi)(如精度等級(jí)為0.02mm的卡尺，允許示值誤差≤±0.02mm)。
重復(fù)性校準(zhǔn)
在同一校準(zhǔn)點(diǎn)(如100mm)重復(fù)測(cè)量5次。
記錄每次示值，計(jì)算最大值與最小值之差(示例：測(cè)量值100.001mm、100.002mm、100.001mm、100.002mm、100.001mm，重復(fù)性誤差為0.001mm)。
重復(fù)性誤差需滿足要求(如≤0.005mm)。
平行度校準(zhǔn)
將卡尺固定在平臺(tái)上，測(cè)量爪分別接觸兩個(gè)平行平面(如量塊側(cè)面)。
記錄測(cè)量值，計(jì)算平行度誤差。
誤差需在允許范圍內(nèi)(如≤0.03mm)。
三、結(jié)果處理
誤差調(diào)整
若誤差超出允許范圍，需調(diào)整卡尺(如微調(diào)零位螺絲、清潔測(cè)量爪)。
調(diào)整后重新校準(zhǔn)，直至誤差符合要求。
記錄與報(bào)告
記錄校準(zhǔn)日期、環(huán)境條件、校準(zhǔn)人員、校準(zhǔn)點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)值、卡尺示值、誤差值、是否合格及調(diào)整情況。
出具校準(zhǔn)證書，注明有效期(通常為1年)。
不合格處理
對(duì)不合格卡尺進(jìn)行維修或報(bào)廢。
定期(如每月)進(jìn)行簡(jiǎn)單核查，確保長(zhǎng)期穩(wěn)定性。